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產品簡介
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2024-01-182021-12-242020-10-242019-01-15北京時代粗糙度儀測量平臺TA610/TA620/TA630/TA631/TA650
1.TA610測量平臺
·齒條升降，立柱可以隨意轉動，用來測量不容易放置的工件，可提高測量精度。
·花崗巖平臺工作面精度：00級（平面公差值3μm）
·花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm
·垂直升降高度：270mm
·垂直升降微調量：20mm
2.TA620測量平臺
·絲桿升降，平臺上設置V型槽，用來測量形狀較小的工件，可提高測量精度。
·花崗巖平臺工作面精度：00級（平面公差值3μm）
·花崗巖平臺大小尺寸：400mm×250mm×70mm
·垂直升降高度：300±1mm
·升降回程誤差：≤手輪旋轉1/6圈
3.TA630微調平臺
4.TA650測量平臺（TR300）
·垂直方向上的升降高度：300±1mm （微調由儀器上的可調支架完成）
·垂直方向上的旋轉角度：±45°
·回程誤差：不大于手輪的1／6圈
·平臺的平面度：00級
·平臺尺寸：600 X 420 X 80 mm
·總高度：695 mm
·X—Y平面轉角，俯仰角。
·調整范圍：X向 ±12.5mm Y向：±12.5mm
·旋轉角度：粗調 360 微調±5 俯仰角度 0～5
5.TA631微調平臺：
·X—Y平面轉角。
·調整范圍：X向 ±12.5mm Y向：±12.5mm
·旋轉角度：粗調 360 微調±5
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